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產(chǎn)品展示
  • OMNIOmni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

    Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°,173°、90三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的測(cè)量。

    型號(hào):OMNI
    更新日期:2024-10-21
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